万用表检查判断可控硅的好坏及极性方法-什么是集成电路

控硅极性和好坏可以用指针万用表或数字万用表进行判断，下面电工学习网小编分别介绍这两种万用表在可控硅极性和好坏测量过程中的使用方法。

1、使用指针万用表检查可控硅极性和好坏方法
根据PN结原理，可控硅三个极之间的电阻值，可用欧姆挡“R×10”或“R×100”挡测量来判别好坏。可控硅的控制极G与阴极K之间是一个PN结，在正常情况下，它的正向电阻在几十欧到几百欧之间，一般反向电阻比正向电阻要大。有时测得控制极反向电阻较小，不一定说明控制极特性差，主要应看其是否符合PN结的特点。

2、使用数字万用表检查可控硅极性和好坏方法
判断可控硅的电极数字万用表拨至二极管挡，红表笔接某一电极，黑表笔分别接触另外两个电极。如果其中有一次显示电压为零点几伏，则此时红表笔接的是控制极G，黑表笔接的是阴极K，余下的则是阳极A。假如两次都显示溢出，说明红表笔接的不是控制极，需更换电极重测。
测试可控硅的触发能力数字万用表拨至PNP挡，此时hFE插口上的两个E孔带正电，C孔带负电，电压为2.8V。可控硅的三个电极各用一根导线引出，阳极A、阴极K引线分别插人E孔和C孔，控制极G悬空。此时可控硅关断，阳极电流为零，将显示000。
把控制极G插人另一个E孔。显示值将从000开始迅速增加，直到显示溢出符号后，立即又变成000，然后再次从000变到溢出，这样周而复始。采用此法可确定可控硅的触发是否可靠。但这样的测试由于电流较大，应尽量缩短测试时间。必要时也可在可控硅的阳极上串一只几百欧的保护电阻。
如果使用NPN挡，可控硅阳极A应接C孔，阴极K接E孔，以保证所加的是正向电压。检查触发能力时，控制极不要插人B孔，因B孔的电压较低，可控硅无法导通。

什么是集成电路?集成电路是怎么分类的?

集成电路：integrate circuit （IC）
　　集成电路是继晶体管后的第三代具有电路功能的电子器件，集成电路是在半导体制造工艺的基础上，把整个电路中的元器件制作在一块硅基片上，构成具有特定功能的电子线路。集成电路与先前用手工或机械方法制造的电路相比，具有体积小，重量轻，功耗低，可靠性高，成本低等优点。

　　
集成电路按集成度可分为六类：

	小规模集成电路（SSI，Small－scale Integration）1962年，含12个晶体管
	中规模集成电路（MSI，Medium－scale）1966年，100－1000个
	大规模集成电路（LSI，Large－scale）1967～1973年，1000个至10万个
	超大规模（VLSI，Very large－scale）1977年，30mm2硅晶片上15万个
	特大规模（ULSI，Ultral large－scale）1993年，1000万个
	巨大规模（Giga scale）1994年，1亿个

　　根据功能与工作机理不同可分为：

	数字逻辑集成电路
	模拟集成电路（线性集成电路）

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